-
產(chǎn)品中心
- 高低溫(濕熱)試驗(yàn)箱STH系列
- 小型高低溫(濕熱)試驗(yàn)箱ETH系列
- 小型超低溫試驗(yàn)箱MC系列
- 冷熱沖擊試驗(yàn)箱TSG系列
- 快速溫變?cè)囼?yàn)箱QTH系列
- 步入式高低溫(濕熱)試驗(yàn)室 WTH系列
- 高溫試驗(yàn)箱HT系列
- 低氣壓試驗(yàn)箱LPT系列
- 桌面型高低溫試驗(yàn)箱 DT系列
- 穩(wěn)定性試驗(yàn)箱CS(W)H系列
- 耐氣候試驗(yàn)箱
- 溫度濕度振動(dòng)綜合試驗(yàn)箱THV系列
- 液體介質(zhì)試驗(yàn)箱STL系列
- 高壓加速老化試驗(yàn)箱ESH系列
- 愛斯派克試驗(yàn)箱(舊款)
-
-
-
-
-
-
高低溫試驗(yàn)箱在電子行業(yè)的應(yīng)用
發(fā)布時(shí)間：
2022-08-25
來源：
廣州斯派克環(huán)境儀器有限公司
高低溫試驗(yàn)箱用于電子器件零組件、自動(dòng)化技術(shù)部件、汽車配件、金屬材料、塑膠等行業(yè)，航空航天、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體材料及纖維材料物理性轉(zhuǎn)變，測(cè)試其材料對(duì)高低溫的不斷抵抗能力和產(chǎn)品熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化，可確保產(chǎn)品的質(zhì)量，從精密的IC到重機(jī)械的組件都能用上，是各領(lǐng)域產(chǎn)品測(cè)試必不可少的一項(xiàng)檢測(cè)箱。小編來解說一下高低溫試驗(yàn)箱可以運(yùn)用哪方面的可靠性試驗(yàn)中。
1、高低溫試驗(yàn)箱高溫貯存
高溫篩選在半導(dǎo)體器件上被普遍采用，通常在高溫下貯存24~168小時(shí)。電子元器件的失效大多數(shù)是由于表層臟污、鍵合欠佳、氧化層有缺陷所導(dǎo)致，它們與溫度有密切的關(guān)系。
各種元器件的熱應(yīng)力和篩選時(shí)長(zhǎng)應(yīng)適當(dāng)選擇，以免產(chǎn)生新的失效機(jī)理。高溫篩選簡(jiǎn)便易行，花費(fèi)并不大，在很多元器件上都能實(shí)施。根據(jù)高溫貯存以后還可以使元器件的參數(shù)性能趨于穩(wěn)定，降低使用時(shí)的參數(shù)漂移。
2、高低溫試驗(yàn)箱溫度循環(huán)系統(tǒng)
在熱脹冷縮的應(yīng)力作用下，電子設(shè)備在使用過程中會(huì)遇到不同的環(huán)境溫度條件，熱匹配性能差的元器件就容易失效。溫度循環(huán)篩選運(yùn)用了極端高溫和極端低溫間的熱脹冷縮應(yīng)力，能有效的剔除有熱性能缺陷的產(chǎn)品。元器件常用的篩選條件是－55～+125℃，循環(huán)5~10次。
3、電子元器件篩選的必要性
電子元器件的固有可靠性取決于產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)方案，在產(chǎn)品的制造過程中，因?yàn)槿藶橐蛩鼗蛟牧?、工藝參?shù)、設(shè)備條件起伏波動(dòng)，最終的成品不可能全部達(dá)到預(yù)想的固有可靠性。
在每一批成品中，總有一部分產(chǎn)品存在一些隱形的缺點(diǎn)和弱點(diǎn)，這些隱性的缺陷和弱點(diǎn)，在一定的應(yīng)力條件下表現(xiàn)為早期失效。具有早期失效的元器件的平均壽命比正常產(chǎn)品要短得多。
因此，需要在電子元器件裝上整機(jī)、設(shè)備之前，就要設(shè)法把具有初期失效的元器件盡可能地加以排除，為此就要對(duì)元器件進(jìn)行篩選。根據(jù)國(guó)內(nèi)外的篩選工作經(jīng)驗(yàn)，通過有效的篩選可以使元器件的總使用失效率下降1- 2個(gè)數(shù)量級(jí)，篩選都是保證可靠性的重要手段。
相關(guān)新聞
廣州斯派克環(huán)境儀器有限公司
地址: 廣州市花都區(qū)迎賓大道西115號(hào)高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)園
手機(jī)官網(wǎng)
微信公眾號(hào)